2025-07-15
當(dāng) 3C 制造邁入 “納米級(jí)精度” 新紀(jì)元，消費(fèi)者對(duì)屏幕顯示效果與設(shè)備輕薄化的極致追求，正倒逼制造環(huán)節(jié)升級(jí) ——0.1 微米級(jí)質(zhì)量控制已成為行業(yè)硬性指標(biāo)。作為國(guó)產(chǎn)光譜共焦技術(shù)引領(lǐng)者，立儀光譜共焦傳感器憑借 A 系列、D 系列、E 系列產(chǎn)品的 50 納米重復(fù)精度及多材質(zhì)適應(yīng)性，成為 3C 行業(yè)質(zhì)檢環(huán)節(jié)的 “終極武器”。本期將深入解析其三大經(jīng)典應(yīng)用案例，揭秘如何破解精密制造中的檢測(cè)難題。
案例一：mini LED 點(diǎn)膠掃描 —— 破解透明膠水精密檢測(cè)難題
在 mini LED 顯示技術(shù)快速發(fā)展的當(dāng)下，點(diǎn)膠工藝作為保障芯片固定與散熱的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其高度的精準(zhǔn)控制直接影響產(chǎn)品性能與可靠性。由于 mini LED 芯片尺寸小、間距密，點(diǎn)膠高度需嚴(yán)格控制在微米級(jí)范圍，偏差過大會(huì)導(dǎo)致芯片貼合不良、散熱受阻等問題。
傳統(tǒng)測(cè)量方式面臨諸多挑戰(zhàn)：接觸式測(cè)量易觸碰芯片或膠水，造成損壞與污染；普通光學(xué)傳感器在測(cè)量微小膠點(diǎn)時(shí)，易受光線反射角度、膠點(diǎn)形狀不規(guī)則等因素影響，測(cè)量精度難以保證。
立儀光譜共焦傳感器的出現(xiàn)徹底打破了這一困局。其核心原理是發(fā)射寬光譜白光，經(jīng)色散鏡頭分解為不同波長(zhǎng)的單色光，當(dāng)照射到膠水表面時(shí)，唯有滿足共焦條件的光線能通過小孔被光譜儀捕捉。通過對(duì)感測(cè)光波長(zhǎng)的精準(zhǔn)計(jì)算，可直接換算出傳感器與膠水表面的距離，實(shí)現(xiàn)膠水厚度的非接觸式精密測(cè)量。
案例二：手機(jī)屏油墨厚度測(cè)量 —— 微米級(jí)涂層的全流程質(zhì)量守門人
手機(jī)屏幕的油墨涂刷工藝堪稱 “微米級(jí)的藝術(shù)創(chuàng)作”，需經(jīng)過多次精密涂布工序，單次涂層厚度需嚴(yán)格控制在 50-200μm 區(qū)間，且各層平整度誤差必須≤±5μm。如此嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)檢測(cè)技術(shù)提出了極高要求。
傳統(tǒng)檢測(cè)方式在此遭遇雙重困境：接觸式測(cè)量極易劃傷脆弱的涂層表面；普通光學(xué)傳感器因光能利用率不足 30%，且存在 > 0.1% F.S./°C 的顯著溫漂，根本無法滿足高速生產(chǎn)線的全檢需求。
立儀光譜共焦傳感器以亞微米級(jí)測(cè)量精度實(shí)現(xiàn)了突破性解決方案。非接觸式測(cè)量原理從根源上消除了劃傷風(fēng)險(xiǎn)，優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì)大幅提升光能利用效率，配合精準(zhǔn)的溫度補(bǔ)償算法，完美適配微米級(jí)涂層的高速在線檢測(cè)場(chǎng)景。
從 mini LED 點(diǎn)膠的微米級(jí)管控到手機(jī)屏油墨的高精度測(cè)量，立儀光譜共焦技術(shù)以 50 納米級(jí)的重復(fù)精度、非接觸式的測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)以及強(qiáng)大的多材質(zhì)適應(yīng)性，精準(zhǔn)攻克了 3C 制造中的諸多質(zhì)檢難題。在 “納米級(jí)精度” 成為行業(yè)標(biāo)配的當(dāng)下，立儀正以硬核技術(shù)實(shí)力，為 3C 制造的高質(zhì)量發(fā)展注入強(qiáng)勁動(dòng)力，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)高端制造向更高精度、更優(yōu)品質(zhì)邁進(jìn)。
